최근 들어 복잡한 하드웨어 개발환경으로 인하여, JTAG 을 이용한 HW Debugging 방법론과 Flaxable 한 Test 요구사항이 크게 증가하고 있습니다.

이에, 아이지시스템 에서는 영국의 JTAG Boundary Scan 분야의 전문 회사인 XJTAG Ltd., 사와 기술 협력을 통하여 “ XJTAG ” 이라는 H/W Test & Debugging 장비를 국내 소개하게 되었습니다.

Embedded 분야의 테스트 담당자와 회로설계 엔지니어를 위해서 매우 획기적인 솔루션이 되리라 확신 합니다.

XJTAG 은 JTAG(Joint Test Action Group) 에서 제공하는 Test 및 Debug 용 Protocol 을 이용하여Chip connection Test(UART, Flash, Rom, USB etc) 및 Chip 기능 Test 등을 할 수 있습니다 . 특히, 복잡해 지고 있는 Chip Package 환경과 작아지는 BGA 타입의 Board 상에서도 간편하고 , 효과적인 Test 를 할 수 있다는 것이 XJTAG 의 장점 입니다.

H/W 개발 부서에서 완제품 테스트 과정까지의 모든 분야에서 적용 가능하며, 고객 여러분의 개발 기간을 단축시켜 Time to Market 을 실현 시킬 수 있기를 기원 합니다.

아이지시스템은 고객이 원하시는 개발환경 구축 ( 단독개발 / 통합개발 솔루션 ) 에 필요한 모든 요구사항에 귀 기울여 개발 환경 컨설팅을 도와 드리겠습니다. ( 필요한 경우에 무료 Trial 장비와 Tech. Support 를 지원 합니다 )

최근, 복잡한 개발보드 및 BGA 타입 Processor 적용 시켜 개발하는 경우, H/W 개발 테스트의 어려움을 효과적으로 Debugging 할 수 있도록 하여 , 고객의 개발 경쟁력을 높일 수 있습니다.

고객의 완제품 생산단계 에서 최종 Test 진행 시 Test 비용을 줄일 수 있도록, 사용자 중심의 생산검증 Test 환경을 제공 합니다.

보드상에 Device 별 Test Vector 를 만들고 관리하는 프로그램 입니다. 개발자가 프로젝트를 수행함에 있어서 Device 중심으로 완성된 테스트 스크립트를 다른 타켓에서 재사용 함으로써, XJTAG 을 활용한 개발진행에 있어서 Time to market 을 실현시켜 드립니다.